EM602-10 Mini TEM Cell是一款工作頻段為DC-6GHz范圍的帶狀線TEM小室，能夠外接信號源產生電磁場，用于測試IC，無線通信模塊等。外部信號通過EM601輸入端口進行加載，在小室腔體內生產一個均勻、可控的電磁場，進行被測模塊或IC的抗擾度測試。IC或其他模塊安裝在測試夾具上放入小室，其產生的輻射場特性也可以通過信號接收機連接EM601小室端口進行檢測

產品型號：EM601-6 IC帶狀線TEM
廠商性質：代理商
更新時間：2022-06-13
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詳細介紹

EM602-10 Mini TEM Cell*緊湊的設計針對超出標準TEM Cell頻率范圍的中等精度測量進行了優(yōu)化。 EM601-6的工作原理與TEM Cell相同。測試腔體內的E-H場與輸入電壓成比例，與小室的高度成反比。當輻射物嵌入小室內部時，輻射波經傳輸線引導，朝著小室的輸入/輸出端口移動，并通過諸如頻譜分析儀的接收器在端口進行輻射信號接收。利用這種方法，可以定量測量來自輻射物的RFI。由于該設備工作頻段寬，因此可應用在EMI，EMS，接收機靈敏度測試等很多領域。

特征

高達6 GHz帶寬（超過普通TEM的 1 GHz帶寬）

可承受高達5 kV的高壓脈沖注入，進行瞬態(tài)場測試

EM602-10 Mini TEM Cell應用：

IC的電磁抗擾度測試

IC的電磁輻射測試

IC的ESD場敏感度測試

IEC 61967-2：2005集成電路 – 150 kHz至1 GHz的電磁輻射測量 – 第2部分：輻射發(fā)射的測量 – TEM單元和寬帶TEM單元法

IEC 61967-8：2011集成電路 – 150 kHz至3 GHz的電磁輻射測量 – 第8部分：輻射發(fā)射的測量 – IC帶狀線方法

IEC 62132-8：2012集成電路 – 電磁抗擾度測量，150 kHz至3 GHz – 第8部分：輻射抗擾度測量 – IC帶狀線方法

SAE 1752-3集成電路輻射發(fā)射的測量 – TEM /寬帶TEM（GTEM）單元法; TEM Cell（150 kHz至1 GHz），寬帶TEM單元（150 kHz至8 GHz）

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